工业水处理 ›› 1985, Vol. 5 ›› Issue (2): 35-38. doi: 10.11894/1005-829x.1985.5.(2).35

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测定超纯水中颗粒存在的一些问题

马延岭   

  1. 天津第四半导体器件厂
  • 出版日期:1985-03-20 发布日期:2014-08-25

Ma Yanling   

  • Online:1985-03-20 Published:2014-08-25

摘要:

随着我国半导体工业的发展,大规模集成电路研制成功,1980年11月在厦门制定了超纯水标准(草案),其中对颗粒直径和颗粒浓度都有一定的要求。过去限于认识水平和