工业水处理 ›› 2004, Vol. 24 ›› Issue (4): 59-60. doi: 10.11894/1005-829x.2004.24(4).59

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VLSI用超纯水制备系统设计中的一些重点问题

刘朋, 陈为红, 杨宝和, 王水弟   

  1. 清华大学微电子学研究所 北京100084
  • 收稿日期:2003-03-15 出版日期:2004-04-20 发布日期:2010-10-01
  • 作者简介:刘朋(1955- ),1988年毕业于北京电子工业仪表大学,工程师,电话:010-62783767,13621002957.
  • Received:2003-03-15 Online:2004-04-20 Published:2010-10-01

摘要:

介绍了清华大学微电子学研究所VLSI用超纯水系统在设计过程中的一些特殊要求和遇到的重点问题。该系统在两级反渗透、电连续去离子、真空膜脱氧、高纯材料的使用、超痕量分析技术以及上位计算机监控等方面都代表了当今超纯水技术的先进水平。

关键词: 超大规模集成电路, 两级反渗透, 电连续去离子, 脱氧膜组, 抛光混床

中图分类号: